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4H-SiC晶體基片

發(fā)布時(shí)間:2024-07-09  瀏覽次數(shù):146


4H-SiC晶體基片是碳化硅(SiC)的一種晶體類型,碳化硅有大約250種晶體類型,包括3C、4H和6H等,但4H-SiC尤其受到人們的關(guān)注。"4H"代表六角晶型,數(shù)字“4”表示C-Si雙原子層沿C方向的堆垛周期數(shù)。

4H-SiC晶體基片的制備工藝一般包括物理氣相傳輸法(PVT),這種方法可以制備出直徑209 mm的4H-SiC單晶,然后通過多線切割、研磨和拋光等一系列加工工藝制備出標(biāo)準(zhǔn)8英寸SiC單晶襯底。此外,另一種新的突破方法是晶圓級(jí)立方碳化硅單晶生長(zhǎng),該晶體與目前應(yīng)用廣泛的六方碳化硅(4H-SiC)不同,有望制備出更高性能的產(chǎn)品。

在電學(xué)性質(zhì)上,4H-SiC具有顯著的優(yōu)勢(shì)。例如,其禁帶寬度可以達(dá)到3.26eV,遷移率高:900cm2/V.s。因此,4H-SiC晶體基片被廣泛應(yīng)用于電力電子、射頻微波等領(lǐng)域。

產(chǎn)品名稱

 4H-SiC晶體基片

技術(shù)參數(shù)

晶體結(jié)構(gòu): 六方晶系  

晶格常數(shù):a=3.08?  c=10.05?

熔點(diǎn)2827

硬度(Mohs):≈9.2

方向:生長(zhǎng)軸或偏(0001) 3.5°

密度(g/cm33.16

帶隙:2.93eV (間接)

導(dǎo)電類型:N導(dǎo)電

電阻率:0.1-0.01 ohm-cm

介電常數(shù):e(11) = e(22) = 9.66     e(33) = 10.33

導(dǎo)電率:5W / cm·K

生長(zhǎng)方式:MOCVD(有機(jī)金屬化學(xué)氣相沉積)

產(chǎn)品規(guī)格

常規(guī)晶向:

 

常規(guī)尺寸:10x5mm 10x10mm,dia2"x0.33mm,dia4"x0.35mm 

 

拋光情況:?jiǎn)螔仭㈦p拋拋光面:常規(guī)單拋為“Si 面拋光,可按要求做“C”面拋光

 

拋光面粗糙度:< 15A注:尺寸及方向可按照客戶要求定做。

晶體缺陷

人工生長(zhǎng)單晶都可能存在晶體內(nèi)部缺陷。

標(biāo)準(zhǔn)包裝

1000級(jí)超凈室,100級(jí)超凈袋或單片盒封裝

晶體材料咨詢電話:199-5653-2471王經(jīng)理

晶體制備相關(guān)設(shè)備   



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